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Calidad total y productividad Humberto Gutiérrez Pulido

Por: Tipo de material: TextoTextoIdioma: Español Detalles de publicación: Bogotá Mc Graw Hill 2005Edición: 2Descripción: 421 p. il´Cuadros, ImagenesISBN:
  • 9701048776
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 20 658.562  G983
Contenidos incompletos:
Calidad, productividad y competitividad.-- Los maestros de calidad.-- Gestión de la calidad e ISO- 9000: 2005.-- Introducción a ISO-9001: 2008.-- Proceso esbelto, reingeniería y la metodología para la solución de problemas.-- Implemetación de una estrategia de mejora y el cuadro de mando integral.-- Estadística descriptiva: la calidad y la variabilidad.-- Indices de capacidad de procesos.-- Diagrama de pareto y estratificación.-- Hoja de verificación (obtención de datos).-- Diagrama de causa - efecto (Ishikawa) y diagramas de procesos.-- Diagrama de dispersión.-- Cartas o diagramas de control.-- Estado de un proceso: capacidad y estabilidad.-- Introducción al muestreo aleatorio.-- Muestreo de aceptación.
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Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Signatura topográfica Info Vol Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras
Libro Colección General Campus Armenia Colección General 658.562 G983 (Navegar estantería(Abre debajo)) 2010 2 Disponible L028330
Libro Colección General Central Armenia Colección General 658.562 G983 (Navegar estantería(Abre debajo)) 2010 3 Disponible L027909

Calidad, productividad y competitividad.-- Los maestros de calidad.-- Gestión de la calidad e ISO- 9000: 2005.-- Introducción a ISO-9001: 2008.-- Proceso esbelto, reingeniería y la metodología para la solución de problemas.-- Implemetación de una estrategia de mejora y el cuadro de mando integral.-- Estadística descriptiva: la calidad y la variabilidad.-- Indices de capacidad de procesos.-- Diagrama de pareto y estratificación.-- Hoja de verificación (obtención de datos).-- Diagrama de causa - efecto (Ishikawa) y diagramas de procesos.-- Diagrama de dispersión.-- Cartas o diagramas de control.-- Estado de un proceso: capacidad y estabilidad.-- Introducción al muestreo aleatorio.-- Muestreo de aceptación.

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